簡要描述:離子遷移實驗裝置 絕緣可靠性評估,原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓 , 經(jīng)過長時間的測試(1 ~1000 小時)并觀察線路是否有瞬間短路的現(xiàn)象發(fā)生 , 并記錄電阻值變化狀況,故又叫做 CAF 試驗,絕緣阻力電阻試驗,或者是 OPEN/SHORT 試驗,我們將其統(tǒng)稱為絕緣劣化試驗。
品牌 | 其他品牌 | 產(chǎn)地 | 進口 |
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加工定制 | 是 |
離子遷移實驗裝置 絕緣可靠性評估
產(chǎn)品特點
通過100n秒以下的高速事件測量功能檢測部分放電(也可以與電阻值數(shù)據(jù)同時測量)
CH個別電源搭載&CH個別反饋對各樣品施加穩(wěn)定的電壓
搭載CH個別電源&CH個別控制可對所有CH設(shè)定不同的施加電壓
因為沒有機械式繼電器的掃描,所以連續(xù)試驗中*和故障
短路檢測電路的CH個別搭載也追隨瞬間的樣品短路
通過三軸電纜的主動保護實現(xiàn)低噪聲測量(測量側(cè))
通過專用軟件可以顯示圖表和收錄數(shù)據(jù)
可按需配置5個通道
用途
高電壓器件的絕緣可靠性評價、功率模塊的連續(xù)耐壓評價、印刷電路板的耐遷移性能評價、其他高電壓部件的絕緣可靠性評價。
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対応OS:WindowsXp、7、8、10
離子遷移實驗裝置 絕緣可靠性評估