HIRAYAMA高加速壽命試驗(yàn)箱(HAST)
HIRAYAMA高加速壽命試驗(yàn)箱(HAST)適用于國防、航天、汽車部件、電子零配件、IC半導(dǎo)體、連接器、線路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏組件等行業(yè)相關(guān)之產(chǎn)品作加速壽命試驗(yàn),使用于在產(chǎn)品的設(shè)計(jì)階段,用于快速暴露產(chǎn)品的缺陷和薄弱環(huán)節(jié)。
更新時(shí)間:2024-10-14 訪問量:9834 型號:
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